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J-GLOBAL ID：201702268545693364   整理番号：17A1649084

クラスレベルでの欠陥速度の影響【Powered by NICT】

Impact of defect velocity at class level

著者 (2件)： Felix Ebubeogu Amarachukwu (University of Malaya Jalan Universiti 50603 Kuala Lumpur, Malaysia) ,  Lee Sai Peck (University of Malaya Jalan Universiti 50603 Kuala Lumpur, Malaysia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ICRAS  ページ： 182-188  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： クラスレベルでのソフトウェア欠陥の予測欠陥予測研究において重要である。さらに,クラスレベル欠陥予測は,ソフトウェアチームを可能にする試験に先立って来るべき生成物放出における欠陥の可能な数に考えを持つこと。ソフトウェア製品のクラスレベルでの欠陥の数に影響する因子を検討することが必要であるかなりの努力。本論文では,欠陥密度相関法を用いたクラスの密度を検出に関連した,いくつかの因子,すなわち,時間と欠陥速度を調べた。実験は131,034クラスを含む69オープンソースJavaプロジェクトで実施した。結果は,欠陥密度は61.41%の相関係数を達成し,欠陥導入時間は 11.413%の相関係数を達成し,欠陥速度は93.56%を達成したことを示した。欠陥速度はクラスレベルでの欠陥の数と正に相関した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *欠陥密度 ,  ソフトウェア ,  プロジェクト ,  相関係数 ,  ソフトウェア商品 ,  予測 ,  Java
準シソーラス用語： オープンソース ,  欠陥予測 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 計算機システム開発  (JD02010R)

タイトルに関連する用語 (2件)： クラス ,  欠陥