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J-GLOBAL ID：201702269664235758   整理番号：17A1347758

単一光子二値画像のノイズ除去のためのBayesアプローチ【Powered by NICT】

A Bayesian Approach to Denoising of Single-Photon Binary Images

著者 (4件)： Altmann Yoann (School of Engineering and Physical Sciences, Heriot-Watt University, Edinburgh, U.K.) ,  Aspden Reuben (School of Physics and Astronomy, University of Glasgow, Glasgow, U.K.) ,  Padgett Miles (School of Physics and Astronomy, University of Glasgow, Glasgow, U.K.) ,  McLaughlin Steve (School of Engineering and Physical Sciences, Heriot-Watt University, Edinburgh, U.K.)
資料名： IEEE Transactions on Computational Imaging  (IEEE Transactions on Computational Imaging)
巻： 3  号： 3  ページ： 460-471  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2428A  ISSN： 2333-9403  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,1画素あたりの光子数が二成分が光子限界領域における処理画像のための新しい方法を議論した。二成分,単一光子画像のための新しいBayes雑音除去法を提案した。各ピクセル測定は,平均には回収すべき基本的な強度値に非線形関数により関連しているBernoulli分布に従うと仮定した。Bayesアプローチを採用して,強度の正値性を与えた上で滑らかさは空間的促進と潜在的に前時間未知強度場を割り当てた。,得られた関節後方分布をサンプリングし,未知の強度を推定し,正則化パラメータと同様に使用される確率論的シミュレーション法。はこの新しい教師なし雑音除去法もPoisson雑音により劣化した画像を解析するために使用できることを示した。提案したアルゴリズムは,合成および実際の単一光子測定を用いた光子限界画像に特化した最先端の雑音除去法と比較した。提示された結果は,光子-制限イメージングに対する提案した方法の潜在的利点を示し,特に非光子数分解検出器。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *雑音低減 ,  シミュレーション ,  *画像 ,  画素 ,  確率論 ,  雑音除去 ,  *二値画像 ,  画像処理 ,  平滑度 ,  検出器 ,  *光子 ,  アルゴリズム
準シソーラス用語： 非線形関数 ,  光子数 ,  *単一光子 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 単一光子 ,  二値画像 ,  ノイズ除去