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J-GLOBAL ID:201702270101040083   整理番号:17A1256716

使い捨て試験:投球その離れにより生成された単体テストの維持の回避【Powered by NICT】

Disposable Testing: Avoiding Maintenance of Generated Unit Tests by Throwing Them Away
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: ICSE-C  ページ: 207-209  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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プログラムの発展に従い,開発者はprogramcodeと共にユニット試験を記述し,これらの試験を維持している。良好な試験は,難しく面倒なことができるSincewriting,単位試験は自動的に生成されるcanalso。しかし,これら試験(例えば,APIが変化した時,または,試験は時代遅れandchanged挙動を表現する場合)を維持し,まだ手作業。automaticallygenerated試験はcoveringcode以外の明確な目的を持たないかもしれないので,それらを維持maintainingmanually筆記試験よりも困難である。この維持各変化後の新しい試験を生成するbysimply回避であり,開発者が変化を図ったwhethertheseか否か確認した1回著者らは使い捨て試験:試験はgeneratedtoを提案しdisposingthe古いコード変化による挙動の違いを明らかにし,捨てた。しかし,この考えはraisesseveral研究課題:第一に,標準自動テスト生成技術は第二incrementallybuilt回帰テストスイートと同様に効率的に変化を明らかにするためにbereliedかもしれないことを試験を生成するために十分な,使い捨て試験は全体的な努力をreducethe,または開発者は既存のものを維持に比較してmoregenerated試験を検査する必要があるであろう。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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計算機網  ,  人工知能 
タイトルに関連する用語 (4件):
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