Tseng Yi-Ting について
Department of Physics, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Chen Po-Hsun について
Department of Physics, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Chang Ting-Chang について
Department of Physics, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Chang Kuan-Chang について
School of Electronic and Computer Engineering, Peking University, Shenzhen, 518055, China について
Tsai Tsung-Ming について
Department of Materials and Optoelectronic Science, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Shih Chih-Cheng について
Department of Materials and Optoelectronic Science, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Huang Hui-Chun について
Department of Materials and Optoelectronic Science, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Yang Cheng-Chi について
Department of Materials and Optoelectronic Science, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Lin Chih-Yang について
Department of Physics, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Wu Cheng-Hsien について
Department of Materials and Optoelectronic Science, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Zheng Hao-Xuan について
Department of Physics, National Sun Yat-Sen University, Kaohsiung, 804, Taiwan R. O. C. について
Zhang Shengdong について
School of Electronic and Computer Engineering, Peking University, Shenzhen, 518055, China について
Sze Simon M. について
Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics, National Chiao Tung University, Hsinchu, 300, Taiwan R. O. C. について
Advanced Electronic Materials について
電圧 について
ソフトウェア について
信頼性 について
画像 について
泡立ち について
耐久性 について
スペーサ について
電気測定 について
信頼性試験 について
電場 について
生産工程 について
抵抗スイッチング について
高誘電率材料 について
COMSOL について
ReRAM について
デバイススケーリング について
成形電圧 について
抵抗ランダムアクセスメモリ(RRAM) について
スペーサ構造 について
半導体集積回路 について
スペーサ について
抵抗ランダムアクセスメモリ について
スケーリング について