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J-GLOBAL ID：201702270574762856   整理番号：17A1357673

多チャネル放射イメージングASICシステム診断のためのバイアス電位モニタリング回路【Powered by NICT】

Biasing potentials monitoring circuit for multichannel radiation imaging ASIC in-system diagnostics

著者 (2件)： Zubrzycka Weronika (AGH University of Science and Technology, Department of Measurement and Electronics, Av. Mickiewicza 30, Cracow, Poland) ,  Kasinski Krzysztof (AGH University of Science and Technology, Department of Measurement and Electronics, Av. Mickiewicza 30, Cracow, Poland)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： MIXDES  ページ： 234-239  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,FAIR中心,Darmstadt,ドイツで圧縮されたバリオン物質実験のために構築されるシリコン追跡システムとミューオンチェンバ検出器のためのSTS/MUCH XYTER2フルサイズプロトタイプ放射イメージングASICの次の改正に実装されるバイアス電位モニタリング回路のアーキテクチャとシミュレーション結果を示した。回路の目的は実験寿命(10年)の間,厳しい,照射環境と電源変動条件で最適な性能を回復するための回路の設定正しい必要に応じて回路内重要な電圧の遠隔測定を可能にすることである。回路は660×208μm~2の面積内に閉じ込められた遅い,逐次比較測定を可能にするコンパレータを用いた8ビット分解能しきい値電圧発生ディジタル-アナログ変換器に結合したアナログ多重入力を構築した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 遠隔測定 ,  計算機アーキテクチャ ,  *バイアス ,  コンパレータ ,  *画像処理 ,  アナログ系 ,  *電位 ,  DA変換器 ,  トラッキング装置 ,  *ASIC ,  電圧 ,  分解能 ,  検出器
準シソーラス用語： 閾値電圧 ,  *マルチチャネル , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： AD・DA変換回路  (NC05080M) ,  増幅回路  (NC05040U)

タイトルに関連する用語 (8件)： 多チャネル ,  放射 ,  イメージング ,  ASIC ,  診断 ,  バイアス ,  電位 ,  モニタリング回路