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J-GLOBAL ID:201702270697353404   整理番号:17A0146389

拡張カーネル回帰分析法を用いたシミュレーション実験を結合するための多重解像度法【Powered by NICT】

Extended Kernel Regression: A multi-resolution method to combine simulation experiments with analytical methods
著者 (4件):
資料名:
巻: 2016  号: WSC  ページ: 590-601  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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シミュレーションは,複雑なシステムの性能を予測するために広く用いられている。シミュレーションの主な欠点は,実行中の遅いことであると関連計算実験は非常に高価である。一方,分析法を用いて,性能評価を迅速に提供するが,それらは拘束仮定のためにしばしば近似されている。最近,拡張カーネル回帰(EKR)は計算量を減少させるための分析法とシミュレーションを結合するために提案されている。本論文では,異なる目的を持つ。EKRを,異なる事例で試験し,他の方法と比較した。第二に,信頼区間の計算のための二つの異なる方法を提案した。数値結果は計算量が低いときEKR法は正確な予測を提供し,特にことを示した。結果も二信頼バンド法の性能を解析した事例に依存することを示した。,信頼バンド計算のためのロバストな方法を開発するために更なる研究が必要である。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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電気化学反応 
タイトルに関連する用語 (5件):
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