文献

J-GLOBAL ID：201702270724924799   整理番号：17A0272046

マイクロビーム蛍光X線分析における多数の細束管を組合わせて細線を用いた元素深さプロファイリング

Elemental depth profiling using a thin wire in combination with a poly-capillary in microbeam X-ray fluorescence analysis

著者 (1件)： IIDA Atsuo (Inst. of Material Structure Sci., Ibaraki, JPN)
資料名： KEK Progress Report (Web)  (KEK Progress Report (Web))
号： 2016-8  ページ： ROMBUNNO.380 (WEB ONLY)  発行年： 2017年01月 
JST資料番号： U0583A  ISSN： 1344-6320  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (6件)： マイクロビーム ,  蛍光X線分析 ,  束 ,  細線 ,  元素 ,  深さプロファイリング