文献

J-GLOBAL ID：201702270763160942   整理番号：17A1356674

圧縮測定による自己回帰過程における基本的評価限界【Powered by NICT】

Fundamental estimation limits in autoregressive processes with compressive measurements

著者 (4件)： Rao Milind (Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, CA) ,  Javidi Tara (Electrical and Computer Engineering, University of California, San Diego, La Jolla, CA) ,  Eldar Yonina C. (Electrical Engineering Technion, Israel Institute of Technology, Haifa, Israel) ,  Goldsmith Andrea (Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, CA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ISIT  ページ： 2895-2899  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 観測の低次元ランダム射影からのベクトル自己回帰(VAR)プロセスのパラメータを推定する問題を考察した。設定は,観測の圧縮測定を行うまたは測定システムに関連したデータ収集プロセスの限界を持っている場合をカバーし,サブサンプルできるだけであった。最初に,スパース性および低ranknessの構造的制約を考慮したものと考慮しない共分散または状態遷移行列の推定器の収束性に関する基本的な限界を提示した。をこれらのマトリックスの推定またはVARプロセスのパラメータを構築し,それが最適であるためであることを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 共分散 ,  *自己回帰モデル ,  計測システム ,  状態推移行列 ,  射影 ,  データ収集
準シソーラス用語： スパース性 ,  ベクトル自己回帰 ,  低次元 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 数値計算  (JE02000J) ,  統計学  (AB08000H)

タイトルに関連する用語 (3件)： 自己回帰過程 ,  評価 ,  限界