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J-GLOBAL ID：201702271067663814   整理番号：17A1359803

130nm CMOSにおける機械学習攻撃に対して耐性を持つ2~65チャレンジ/応答対をもつ強いサブしきい値電流アレイPUF【Powered by NICT】

Strong subthreshold current array PUF with 2⁶⁵ challenge-response pairs resilient to machine learning attacks in 130nm CMOS

著者 (4件)： Xi Xiaodan (The University of Texas at Austin, TX, USA) ,  Zhuang Haoyu (The University of Texas at Austin, TX, USA) ,  Sun Nan (The University of Texas at Austin, TX, USA) ,  Orshansky Michael (The University of Texas at Austin, TX, USA)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： VLSI Circuits  ページ： C268-C269  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,機械学習(ML)攻撃から影響を受けない強いシリコン物理的クローン化不能関数(PUF)を提案した。サブしきい値電流アレイ(SCA)と呼ばれるPUF,PUFは二次元トランジスタアレイと低オフセットコンパレータの対から構成されている。作製したPUFチップは2~65チャレンジレスポンスペア(CRP)を可能にし, 20温度80°CとVdd%までの平均ビット誤り率(BER)5.8%の高い信頼性を達成した。較正に基づくCRPフィルタリング法はCRPの10%損失によるBERから2.6%を効果的に改善する。ML攻撃を受けると,PUFは既知の代替法よりも100倍高いことを回復力を示し,PUF予測不可能性の低下は無視出来る程度であった。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *電流 ,  信頼性 ,  *CMOS ,  クローン ,  フィルタリング ,  *機械学習 ,  二次元 ,  予測
準シソーラス用語： ビット誤り率 ,  *サブ閾値 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  光導電素子  (NC03083X)

タイトルに関連する用語 (8件)： CMOS ,  機械学習 ,  攻撃 ,  耐性 ,  応答 ,  サブ ,  しきい値電流 ,  アレイ