広がる加速器の利用 中性子  加速器中性子源の利用  半導体の耐性試験-加速器によるシングルイベント耐性の実測評価-

小林和淑

文献

J-GLOBAL ID：201702271198732733 整理番号：17A0211760

広がる加速器の利用中性子加速器中性子源の利用半導体の耐性試験-加速器によるシングルイベント耐性の実測評価-

Endurance Measurement of Semiconductor Chips-Beam Test by Particle Accelerator for Single Event Effects-

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著者 (1件)：
資料名：
巻： 13 号： 4 ページ： 245-252 発行年： 2017年01月31日
JST資料番号： L5541A ISSN： 1349-3833 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

LSI上のトランジスタの信頼性を脅かす主な要因として,経年変化と一時故障が挙げられる。シングルイベント効果(SEE)の確率は低いが,車や航空機などの高信頼度を要求する機器では脅威である。本稿ではまず,放射線によるSEEの分類と歴史を紹介した。次に,それらのソフトエラーの要因として,高エネルギー中性子と熱中性子を論じ,ソフトエラー率(SER)の見積法を示した。続いて,ソフトエラー対策として,プロセスレベルでの対策と回路レベルでの対策を論じた。最後に,加速器による中性子帰因ソフトエラー耐性の実測評価を紹介した。他のSER評価手法にも触れた。

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固体デバイス計測・試験・信頼性 , 半導体の放射線による構造と物性の変化

引用文献 (27件)：

ComputerWorld, p. 12, Dec. 3,2001.
”In-flight upset, 154 km west of learmonth, WA, 7 October 2008, VH-QPA Airbus A330-303,” ATSB Transp. Safety Report - Aviation Occurrence Investig., no. AO-2008-070, pp. 1-313, Dec. 2011.
K. Shimbo, T Toba, K. Nishii, E. Ibe, Y. Taniguchi, and Y. Yahagi, ”Quantification & mitigation techniques of soft-error rates in routers validated in accelerated neutron irradiation test and field test,” SELSE, 2011.
J. Warnock, et. al., ”22nm next-generation IBM system z microprocessor,” in ISSCC, Feb. 2015, pp. 1-3.
R. Kan, T. Tanaka, G. Sugizaki, R. Nishiyama, S. Sakabayashi, Y. Koyanagi, R. Iwatsuki, K. Hayasaka, T Uemura, G. Ito, Y. Ozeki, H. Adachi, K. Furuya, and T. Motokurumada, ”A 10th generation 16-core sparc64 processor for mission-critical unix server,” in ISSCC, 2013, pp. 60-61.

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