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J-GLOBAL ID：201702271199635168   整理番号：17A1028181

多モード基板集積導波路共振器を用いた広帯域プリント基板特性化【Powered by NICT】

Broadband Printed-Circuit-Board Characterization Using Multimode Substrate-Integrated- Waveguide Resonator

著者 (2件)： Wang Hong Bin (EHF Key Laboratory of Fundamental Science, School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China) ,  Cheng Yu Jian (EHF Key Laboratory of Fundamental Science, School of Electronic Engineering, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu, China)
資料名： IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques  (IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques)
巻： 65  号： 6  ページ： 2145-2152  発行年： 2017年 
JST資料番号： C0229A  ISSN： 0018-9480  CODEN： IETMAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多モード基板集積導波路(SIW)共振器を用いた広帯域プリント回路基板特性化を本論文で提案し,研究した。共振器試料を空洞の二つの末端に位置する二結合スロットを通して二閉じた矩形導波路により供給される。大モード指数を用いたTE_10K共鳴モードの一連の共振器において連続的に励起することができる。この設計は二つの隣接モード間の周波数間隔(Δ f)の効果的な制御を行うことができた。に加えて,Δfは大モード指数Kで一定に近づく。この特徴は小さく,ほぼ均一な周波数間隔で誘電体材料を試験するために重要である。詳細設計プロセスは,共振器試料の寸法と与えられた運転周波数帯用給電構造を合成するために導入した。例として,タコニックTLY V基板は,Kaバンドで測定した最初にこの方法の精度を検証することである。種々の厚さの試料の二種類を作製し試験し導体損を校正した。後,このSIW多モード測定はほぼ均一な周波数間隔で全Wバンド上の同じ基質の正確な試験に採用した。このタスクは,共振モードと放射漏れの選択のために,マイクロストリップ線路に基づく従来の共鳴法によって実現されていない。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *広帯域 ,  *多モード ,  共鳴 ,  周波数帯 ,  *プリント基板 ,  周波数 ,  *共振器 ,  *キャラクタリゼーション ,  誘電材料 ,  方形導波管 ,  マイクロストリップ線路
準シソーラス用語： Wバンド ,  Kaバンド ,  共振モード ,  *基板集積導波路 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 共振器  (NC04050Y) ,  フィルタ一般  (NC04021I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 多モード ,  基板集積導波路 ,  共振器 ,  広帯域 ,  プリント基板 ,  特性化