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J-GLOBAL ID：201702271549488753   整理番号：17A0940163

システム試験欠陥に関するソフトウェア工学信念の調査【Powered by NICT】

Examining Software Engineering Beliefs about System Testing Defects

著者 (4件)： Monden Akito (Okayama University) ,  Tsunoda Masateru (Kindai University) ,  Barker Mike (Nara Institute of Science and Technology) ,  Matsumoto Kenichi (Nara Institute of Science and Technology)
資料名： IT Professional  (IT Professional)
巻： 19  号： 2  ページ： 58-64  発行年： 2017年 
JST資料番号： W1094A  ISSN： 1520-9202  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 研究結果は短い,驚くべき文,またはソフトウエア工学(SE)信念,「モジュールの20%に由来する欠陥の約80%」と「ピアレビューは欠陥の60%を捉える」などとしてしばしば表現される。このようなSE信念である産業で特に重要な,注目,容易に理解可能な,実用的に有用である。システム試験における欠陥の増加または減少に関連した選択された信念を経験的に検証によるプロセス改善を正当化するためにこのようなSE信念の力を調べた。は日本における二中規模組込みソフトウェア開発組織からのデータの四種の塩基性SE信念を調べた。この情報に基づいて,各組織のための可能なプロセス改善を同定した。少量と中規模の企業(SMEs)は,それらの過程,より良い製品をもたらすであろうを改善するための可能な方向を見出すために,このアプローチを使用することができることを決定した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 塩基性 ,  日本 ,  *ソフトウェア工学 ,  中規模
準シソーラス用語： 組込みソフトウェア ,  プロセス改善 ,  ピアレビュー ,  *システムテスト , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： パターン認識  (JE07000S)

タイトルに関連する用語 (5件)： システム試験 ,  欠陥 ,  ソフトウェア工学 ,  信念 ,  調査