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J-GLOBAL ID：201702272094581566   整理番号：17A0441998

Wishart分布に基づく多変量測定誤差の改良モデリング【Powered by NICT】

Improved modeling of multivariate measurement errors based on the Wishart distribution

著者 (4件)： Wentzell Peter D. (Trace Analysis Research Centre, Department of Chemistry, Dalhousie University, PO Box 15000, Halifax, NS B3H 4R2, Canada) ,  Cleary Cody S. (Trace Analysis Research Centre, Department of Chemistry, Dalhousie University, PO Box 15000, Halifax, NS B3H 4R2, Canada) ,  Kompany-Zareh M. (Trace Analysis Research Centre, Department of Chemistry, Dalhousie University, PO Box 15000, Halifax, NS B3H 4R2, Canada) ,  Kompany-Zareh M. (Institute for Advanced Studies in Basic Sciences (IASBS), GavaZang, Zanjan, 45137-66731, Iran)
資料名： Analytica Chimica Acta  (Analytica Chimica Acta)
巻： 959  ページ： 1-14  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0394A  ISSN： 0003-2670  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 誤差共分散マトリックス(ECM)は多変量測定から誤差を特徴づける,多重チャネルを横切る誤差の分散および共分散の両方を表現するための重要なツールである。そのような情報を理解する上で,実験誤差の源を最小化し,最適なデータ解析法の選択に有用である。通常複製を通して得られた,実験的E CMは本質的に雑音が多く,得るために不便な,限られた解釈可能性を提供する。重要な利点は,確立されたエラータイプに基づくE CMのためのモデルを構築することにより実現できる。このようなモデルはノイズの少ない,複製の必要性を減少させ,マトリックス特異点のような数学的複雑さを軽減し,より大きな洞察を提供した。最小二乗法を用いたECMモデルのフィッティングは,以前に提案されているが,本研究は,Wishart分布に基づくフィッティングは,非常に優れたアプローチを提供することを確立した。シミュレーション研究は,Wishart法が,より小さい変動を持つパラメータ推定値をもたらし,また,パラメータ化したブートストラップ法を用いた代替モデルの統計的試験を促進することを示した。新しいアプローチは,オフセット,乗法オフセット,ショット雑音と均一な独立なノイズに関連した誤差項を含む種々のモデルの受容性を確立するために蛍光発光データに適用した。複製の数だけでなく,単一対多重複製集合の意味についても述べた。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： ショット雑音 ,  最小二乗法 ,  ブートストラップ ,  共分散 ,  オフセット ,  *モデリング ,  パラメータ推定 ,  データ解析 ,  乗算 ,  特異点 ,  パラメタリゼーション ,  複製 ,  *測定誤差
準シソーラス用語： マルチチャネル ,  *多変量 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (7件)： 多変量解析 ,  誤差共分散行列 ,  最大尤度 ,  誤りシミュレーション ,  Wishart分布 ,  蛍光 ,  測定雑音

分類 (3件)： 分析化学一般  (CC02010H) ,  分光分析  (CC03012W) ,  有機物質の物理分析一般  (CC03031B)

タイトルに関連する用語 (4件)： 分布 ,  多変量 ,  測定誤差 ,  モデリング