寄生B JTとSCRによる製品の破損を最小化するための自動化ツール【Powered by NICT】

Secareanu Radu; Johnson Craig; Stockinger Michael

文献

J-GLOBAL ID：201702273151609560 整理番号：17A1646172

寄生B JTとSCRによる製品の破損を最小化するための自動化ツール【Powered by NICT】

An automated tool for minimizing product failures due to parasitic BJTs and SCRs

出版者サイト複写サービスで全文入手 {{ this.onShowCLink("http://jdream3.com/copy/?sid=JGLOBAL&noSystem=1&documentNoArray=17A1646172&COPY=1") }}
高度な検索・分析はJDreamⅢで {{ this.onShowJLink("http://jdream3.com/lp/jglobal/index.html?docNo=17A1646172&from=J-GLOBAL&jstjournalNo=W2441A") }}

著者 (3件)： , ,
資料名：
巻： 2017 号： EOS/ESD ページ： 1-7 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：アメリカ合衆国 (USA) 言語：英語 (EN)

過渡事象のために旋削のリスクがあることを寄生B JTとSCRの位置決めおよび報告する包括的方法を記述した。直感的,DRCのような実装はそれらのリスクレベル分類無給電素子を同定し,設計サイクル中の電位設計問題を固定する機会を提供した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

, , ,

旋削,中ぐり , 工作一般

, , , , ,

前のページに戻る