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J-GLOBAL ID：201702273286307168   整理番号：17A1026217

低誘電率球状物体のバイスタティック散乱測定【Powered by NICT】

Bistatic scattering measurement on low permittivity spheroidal objects

著者 (3件)： Saleh H. (Centre Commun de Ressources en Microondes CCRM, 5 rue Enrico Fermi, 13013, Marseille France) ,  Geffrin J.-M. (Aix-Marseille Univ, CNRS, Centrale Marseille, Institut Fresnel, Marseille, France) ,  Tortel H. (Aix-Marseille Univ, CNRS, Centrale Marseille, Institut Fresnel, Marseille, France)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： EUCAP  ページ： 259-262  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,低電磁シグネチャ物体の散乱測定における進歩を提示した。試験中のターゲットは,低い相対誘電率,波長に匹敵するサイズの回転楕円体である。測定はバイスタティック構成における「中央通信de Ressources en Microondes」(CCRM)の実験施設での実施とハードゲーティング雑音低減システムを使用した。測定によると,有限要素法コードを用いて得られた計算との比較により評価した。実験パラメータを注意深く調節することによって,そのような低散乱物体でも得られる良好な測定精度。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 波長 ,  有限要素法 ,  回転楕円体 ,  散乱体 ,  通信 ,  測定精度 ,  *誘電率 ,  雑音低減
準シソーラス用語： *散乱計測 ,  *低誘電率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 電磁気学一般  (BD01020N) ,  光の散乱,回折,干渉  (BD03030M)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低誘電率 ,  球状 ,  物体 ,  バイ ,  散乱測定