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J-GLOBAL ID：201702273379412672   整理番号：17A1773151

周波数および深さ依存飛行時間歪を用いた材料分類【Powered by NICT】

Material Classification Using Frequency-and Depth-Dependent Time-of-Flight Distortion

著者 (6件)： Tanaka Kenichiro ,  Mukaigawa Yasuhiro ,  Funatomi Takuya ,  Kubo Hiroyuki ,  Matsushita Yasuyuki ,  Yagi Yasushi
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CVPR  ページ： 2740-2749  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,市販の飛行時間(ToF)カメラを用いた材料分類法を提案した。ToFカメラによる深さ測定は,ある種の材料を有する物体,特に半透明材料で歪んでいることを重要な観察を用いた。はこの歪により,材料の全域における時間領域インパルス応答の変化により,既存のToFカメラの測定機構によっても引き起こされることを示した。特に,歪の量はToFカメラの変調周波数,物体の材料,カメラと物体の距離に応じて変化することを明らかにした。著者らの方法は,特徴としてToF測定の深さ歪を使用し,シーンの材料分類を達成した。提案した方法の有効性を数値的評価と実世界実験により示し,視覚的に類似したオブジェクトの分類もその能力を示している。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： インパルス応答 ,  カメラ ,  視覚 ,  *周波数
準シソーラス用語： 時間領域 ,  半透明 ,  分類法 ,  *飛行時間 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  撮像・録画装置  (ND12032E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 飛行時間 ,  歪 ,  分類