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J-GLOBAL ID：201702273394445126   整理番号：17A1803636

空間位置・絶対長さ測定のための分光干渉技術

Space-position and absolute length measurement using spectroscopic interferometers

著者 (3件)： 松本弘一 (東大) ,  松本弘一 (東京精密) ,  高増潔 (東大)
資料名： Optics & Photonics Japan講演予稿集(CD-ROM)  (日本光学会年次学術講演会講演予稿集(CD-ROM))
巻： 2017  ページ： ROMBUNNO.1pB14  発行年： 2017年10月16日 
JST資料番号： L6928B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： 光干渉 ,  *長さ測定 ,  依存性 ,  空間分布 ,  *絶対測定 ,  位置測定 ,  *光干渉法 ,  スペクトロスコピー ,  干渉計 ,  距離測定 ,  非接触測定
準シソーラス用語： Fizeau干渉計 ,  位置依存性

分類 (2件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G) ,  長さ,面積,断面,体積,容積,角度の計測法・機器  (AD05020O)

タイトルに関連する用語 (3件)： 長さ測定 ,  分光 ,  干渉