抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
試験は回路やシステムの出力応答は正確であるまたは誤差を持つか否かを検査する必要がある。組合せ線形圧縮器は,より少ない数の出力へのスキャンチェーンの多数の出力応答をコンパクトに用いることができる。コンパクタ設計は少数Xの(未知)の存在下で全てのスキャンチェーンの観察を保証することができるが,これはより高いX密度と設計のための十分でないかもしれない。本論文では,高圧縮比を達成しながら,高いX密度の存在下でも高い可観測性を維持できることを入力回転子を用いたに基づく出力コンパクタを設計するための完全に新しい方法論を提示した。鍵となるアイデアは,入力回転子の特別なシフト距離内で隣接する入力における入力依存性の分離を最大化する十分に注意深く設計されたX ORネットワークの前面における組合せ回転子を置くことである。標的圧縮比と最大シフト距離を与えられたそのようなコンパクタを構築するための系統的要領を紹介する。実験結果は,同一圧縮比のためのXコンパクトとSteiner締固め機械を含む既存の最新成形法と比較して高いX密度の可観測性の有意な改善を示した。出力圧密は高X密度の設計で採用されているとき,この結果高い故障検出率,良好な診断,低オーバヘッドである。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】