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J-GLOBAL ID:201702273568270995   整理番号:17A1722343

改良された入力回転圧縮機設計による高X密度のための出力圧縮【Powered by NICT】

Output compaction for high X-densities via improved input rotation compactor design
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: AUTOTESTCON  ページ: 1-7  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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試験は回路やシステムの出力応答は正確であるまたは誤差を持つか否かを検査する必要がある。組合せ線形圧縮器は,より少ない数の出力へのスキャンチェーンの多数の出力応答をコンパクトに用いることができる。コンパクタ設計は少数Xの(未知)の存在下で全てのスキャンチェーンの観察を保証することができるが,これはより高いX密度と設計のための十分でないかもしれない。本論文では,高圧縮比を達成しながら,高いX密度の存在下でも高い可観測性を維持できることを入力回転子を用いたに基づく出力コンパクタを設計するための完全に新しい方法論を提示した。鍵となるアイデアは,入力回転子の特別なシフト距離内で隣接する入力における入力依存性の分離を最大化する十分に注意深く設計されたX ORネットワークの前面における組合せ回転子を置くことである。標的圧縮比と最大シフト距離を与えられたそのようなコンパクタを構築するための系統的要領を紹介する。実験結果は,同一圧縮比のためのXコンパクトとSteiner締固め機械を含む既存の最新成形法と比較して高いX密度の可観測性の有意な改善を示した。出力圧密は高X密度の設計で採用されているとき,この結果高い故障検出率,良好な診断,低オーバヘッドである。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (5件):
分類
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CAD,CAM  ,  システム・制御理論一般  ,  半導体集積回路  ,  システム同定  ,  信頼性 
タイトルに関連する用語 (3件):
タイトルに関連する用語
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