文献

J-GLOBAL ID：201702273689913188   整理番号：17A1240062

エレクトロスプレイ質量分析を用いたオキソバナジウム(IV)錯体の解析:電子の損失とその生成物イオン捕捉酸素によって形成された分子イオン【Powered by NICT】

Analysis of oxovanadium(IV) complexes using electrospray mass spectrometry: Molecular ion formed by loss of an electron, and its product ions trapping oxygen

著者 (7件)： Hou Xue (Center of Analysis and Testing, Sichuan Academy of Agricultural Sciences, Chengdu, 610066, China) ,  Hou Xue (Chengdu Institute of Organic Chemistry, Chinese Academy of Sciences, Chengdu, 610041, China) ,  Hou Xue (Laboratory of Quality and Safety Risk Assessment for Agro-products (Chengdu), Ministry of Agriculture, Chengdu, 610066, China) ,  Wu Zhi-Jun (Chengdu Institute of Biology, Chinese Academy of Sciences, Chengdu, 610041, China) ,  Zhao Jian-Qiang (Chengdu Institute of Organic Chemistry, Chinese Academy of Sciences, Chengdu, 610041, China) ,  Yuan Wei-Cheng (Chengdu Institute of Organic Chemistry, Chinese Academy of Sciences, Chengdu, 610041, China) ,  Qi Hua-Yi (Chengdu Institute of Biology, Chinese Academy of Sciences, Chengdu, 610041, China)
資料名： Rapid Communications in Mass Spectrometry  (Rapid Communications in Mass Spectrometry)
巻： 31  号： 17  ページ： 1431-1436  発行年： 2017年 
JST資料番号： T0695A  ISSN： 0951-4198  CODEN： RCMSEF  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 根拠:それらの生物学的性質に加えて,オキソバナジウム錯体は,それらの優れた触媒酸化能力のために触媒として広く応用されている。最近,単金属オキソバナジウム(IV)錯体はシリルケテンイミンの求電子トリフルオロメチル化における触媒として使用した。触媒の研究は,反応機構の理解に寄与することができる。【方法】六単一金属オキソバナジウム(IV)錯体はエレクトロスプレイイオン化飛行時間質量分析(ESI TOFMS)により分析し,オキソバナジウム(IV)錯体と同様に重水素標識錯体の選択したカチオン[M]~+で行った衝突誘起解離質量分析(CID MS)実験。異なる衝突ガスを用いて,気相イオン-分子反応にO_2とH_2Oの源を理解した。【結果】オキソバナジウム(IV)錯体は電子の損失による[M]~+イオンを形成し,[M]~+イオンH_2Oの損失とO_2の添加による[M]~+から形成されている。[M]~+カチオンのフラグメンテーション経路は,ESI-MS/MSによって研究し,気相イオン-分子反応により生成したいくつかのイオンを検出し,キャラクタライズし,バナジウムオキソ,ペルオキソおよび誘導体を含んでいた。【結論】いくつかの予想外のイオンが検出され,気相イオン-分子反応から生成された[M]~+,[M]~+とイオンを含んでいた。研究は,オキソバナジウム(IV)錯体の構造と特性の理解に寄与しており,新しいオキソバナジウム触媒の設計とその反応機構の理解を促進することができた。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： エレクトロスプレイイオン化 ,  *酸素 ,  衝突誘起解離 ,  触媒 ,  *エレクトロスプレイイオン化質量分析 ,  フラグメンテーション ,  *錯体 ,  重水素 ,  イオン分子反応 ,  反応機構 ,  *イオントラッピング ,  *イオン ,  カチオン ,  気相
準シソーラス用語： *分子イオン , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 有機化合物の物理分析  (CC03034A) ,  質量スペクトル(分子)  (BH06100V)

タイトルに関連する用語 (9件)： エレクトロスプレイ質量分析 ,  錯体 ,  解析 ,  電子 ,  損失 ,  生成物 ,  イオン捕捉 ,  酸素 ,  分子イオン