文献

J-GLOBAL ID：201702274393064155   整理番号：17A1836505

Xilinx Kintex-7FPGAを用いた三重モジュラ冗長SEU軽減技術の評価のための実験的方法と結果【Powered by NICT】

Experimental methods and results for the evaluation of triple modular redundancy SEU mitigation techniques with the Xilinx Kintex-7 FPGA

著者 (8件)： Sielewicz Krzysztof M. (European Organization for Nuclear Research (CERN), 1210 Geneva, Switzerland and Warsaw University of Technology, the Institute of Electronic Systems, Warsaw, Poland) ,  Rinella Gianluca Aglieri (European Organization for Nuclear Research (CERN), 1210 Geneva, Switzerland) ,  Bonora Matthias (European Organization for Nuclear Research (CERN), 1210 Geneva, Switzerland and University of Salzburg, Austria) ,  Giubilato Piero (European Organization for Nuclear Research (CERN), 1210 Geneva, Switzerland) ,  Lupi Matteo (European Organization for Nuclear Research (CERN), 1210 Geneva, Switzerland and Goethe University Frankfurt, Frankfurt am Main, Germany) ,  Rossewij Marcus J. (Utrecht University, Department of Physics, Scientific Instrumentation, 3584CA Utrecht, The Netherlands) ,  Schambach Joachim (University of Texas at Austin, Department of Physics, Austin, TX, Texas 78712-0264, USA) ,  Vanat Tomas (Czech Technical University, Department of Digital Design, 160 00 Praha, Czech Republic and the Czech Academy of Sciences, Nuclear Physics Institute, 250 68 Rez∨, Czech Republic)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： NSREC  ページ： 1-7  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,Xilinx Kintex-7FPGAを用いた三重モジュラー冗長SEU軽減技術を評価するための実験方法と結果を述べた。試験は陽子照射と故障注入試験の両方で行った。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *陽子照射
準シソーラス用語： 故障注入 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (3件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (5件)： 三重 ,  冗長 ,  SEU ,  評価 ,  実験