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J-GLOBAL ID:201702274643242103   整理番号:17A1462914

シンクロトロンX線回折によるPb(Mg_1/3Nb_2/3)0.65Ti_0 35O_3セラミックにおける周波数効果電気的疲労と亀裂先端ドメインスイッチング挙動の研究【Powered by NICT】

Investigation of frequency effect on electrical fatigue and crack tip domain-switching behaviors in Pb(Mg1/3Nb2/3)0.65Ti0.35O3 ceramics via synchrotron X-ray diffraction
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資料名:
巻: 37  号: 15  ページ: 4609-4616  発行年: 2017年 
JST資料番号: E0801B  ISSN: 0955-2219  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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Pb(Mg_1/3Nb_2/3)0.65Ti_0 0.35O_3セラミックの電気疲労亀裂成長と分域スイッチングに及ぼす周波数の影響を調べた。1 10 50および100Hzで疲労した試料の微細構造,強誘電特性と分域スイッチング挙動の変化を決定した。本実験では,電極と亀裂長さでの損傷層の厚さは周波数の増加と共に減少することが分かった。残留分極は減少し,一方保磁力は多くの荷重サイクルとともに増加した。亀裂先端のまわりのドメイン配向マップを,シンクロトロン源からの走査高エネルギーX線回折を用いて明らかにした。これは亀裂先端近傍の格子歪分布と強誘電分域集合組織に及ぼす疲労周波数の影響を示した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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分類 (2件):
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強誘電体,反強誘電体,強弾性  ,  セラミック・磁器の性質 

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