抄録/ポイント:
抄録/ポイント
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本研究では,実際の接触に存在すると信じられている隣接橋構造から生じる効果を検討した。本研究でこれらの構造が双曲面を用いた理想化されたが,実際の状況で起こることができるかの妥当な推定を提供すると信じられている。この手法を用いて,理想化された共平面の場合に比べて接触を横切る電流密度分布は有限のままであることを示した。さらに,接触領域の電圧降下は橋の存在でわずかに高いことを示した;このようにして,実際の接触における高い接触抵抗を期待される。これが生じる程度は真実接触橋構造の詳細に依存する。さらに,等電位とフローラインの推定は,幾何学的考察を用いて構成できることを示した。この場合これは接触抵抗を推定するに役立つであろうと考えられる。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】