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J-GLOBAL ID:201702275480773400   整理番号:17A0794678

傷みやすい製品を使用した連続生産ラインの過渡解析:Bernoulliの信頼性モデル【Powered by NICT】

Transient Analysis of Serial Production Lines With Perishable Products: Bernoulli Reliability Model
著者 (3件):
資料名:
巻: 62  号:ページ: 694-707  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0223A  ISSN: 0018-9286  CODEN: IETAA9  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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腐りやすい製品と製造システムは実際に観測されている(例えば,食品工業,生化学的生産,電池と半導体製造)。そのようなシステムでは,製品の品質は,その曝露時間に強く影響される次の操作,すなわち,システム内の中間部分の滞留時間が導入されている。製品ユーザビリティを保証するためにこのような時間は厳しく制限されなければならない。最大許容滞留時間に到達する部品を廃棄する必要がある,生産を妨げる。効率化生産を達成するために,時間依存または過渡解析である生産作業を支配する基礎原理を明らかにするために重要である。本論文では,二Bernoulli信頼性マシン,有限バッファと生鮮食品を用いたシリアルな生産ラインモデルは,そのようなシステムの過渡挙動を解析するために提示した。解析式を過渡性能を評価するために導出し,構造特性を,システムパラメータの影響を検討した。添加では,モデルを用いて,過渡解析のための提案した方法の重要性を実証するために,整定時間推定と生産管理の問題を検討した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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システム設計・解析 
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