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J-GLOBAL ID：201702275507079761   整理番号：17A1264733

不均一微分相互接続における共通モードの発生【Powered by NICT】

Generation of common mode in non-uniform differential interconnections

著者 (7件)： Wu X. (Dept. Electronics, Information and Bioengineering, Politecnico di Milano, Milan, Italy) ,  Grassi F. (Dept. Electronics, Information and Bioengineering, Politecnico di Milano, Milan, Italy) ,  Liu X. (Dept. Electronics, Information and Bioengineering, Politecnico di Milano, Milan, Italy) ,  Sun J. (Dept. Electronics, Information and Bioengineering, Politecnico di Milano, Milan, Italy) ,  Pignari S. A. (Dept. Electronics, Information and Bioengineering, Politecnico di Milano, Milan, Italy) ,  Manfredi P. (Dept. of Information Technology, IDLab, Ghent University-imec Gent, Belgium) ,  Ginste D. Vande (Dept. of Information Technology, IDLab, Ghent University-imec Gent, Belgium)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： APEMC  ページ： 256-258  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本研究では,不完全な生産プロセスのためにわずかな不均一性と差動線路相互接続における望ましくないコモンモード(CM)電流の発生の機構を調べた。この目的のために,三種類の非理想的配置を考慮し,二マイクロストリップから成る理想的均一微分相互接続の摂動によって得られた。モーダル解析を用いて,支配伝送線路方程式は理想的な構造の摂動として記述した。これはクロストークとの類似性におけるモード変換現象の回路的解釈を可能にした。線路端末で誘導される共通及び差動モード量の周波数応答に及ぼす各幾何学的パラメータ(線に沿って変化する)が果たす役割を示し,検討した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 端末装置 ,  クロストーク ,  不均一性 ,  マイクロストリップ線路 ,  *微分 ,  類似性 ,  周波数応答 ,  モード解析 ,  *相互接続 ,  モード変換 ,  生産プロセス
準シソーラス用語： 幾何学的パラメータ ,  差動モード ,  コモンモード ,  差動線路 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： プリント回路  (NA05040O)

タイトルに関連する用語 (3件)： 不均一 ,  微分 ,  相互接続