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J-GLOBAL ID：201702275923844851   整理番号：17A1645977

伝導放出とあなた 伝導放射の概要【Powered by NICT】

Conducted emissions and you - A brief overview of conducted emissions

著者 (1件)： Semanson Christopher (Hardware Applications Durham, NC)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： EMCSI  ページ： 1-29  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： アジェンダEMCモデルとが実施された排出(CE)をモデルに適合した。を行った系における排出。放出を行った。伝導妨害を試験する方法。排出の源。は排出の種々の源を如何に制御するかを同定した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *モデル

分類 (3件)： 雑音測定  (ND04030F) ,  雑音一般  (ND04010J) ,  雑音理論  (ND04020U)

タイトルに関連する用語 (4件)： 伝導 ,  放出 ,  放射 ,  概要