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J-GLOBAL ID：201702276513553066   整理番号：17A1835958

導波路群屈折率の測定のための高分解能光周波数領域反射測定法【Powered by NICT】

High resolution optical frequency domain reflectometry for measurement of waveguide group refractive index

著者 (4件)： Zhao Dan (Eindhoven University of Technology, Dept. of Electrical Engineering, Den Dolech 2, 5612 AZ, Eindhoven, the Netherlands) ,  Pustakhod Dzmitry (Eindhoven University of Technology, Dept. of Electrical Engineering, Den Dolech 2, 5612 AZ, Eindhoven, the Netherlands) ,  Williams Kevin (Eindhoven University of Technology, Dept. of Electrical Engineering, Den Dolech 2, 5612 AZ, Eindhoven, the Netherlands) ,  Leijtens Xaveer (Eindhoven University of Technology, Dept. of Electrical Engineering, Den Dolech 2, 5612 AZ, Eindhoven, the Netherlands)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： IPC  ページ： 537-538  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： フォトニック集積回路における導波路の群屈折率の特性化のための高分解能光周波数領域反射測定法を示した。法は群屈折率測定のための10~ 4とその分散の10~ 3の相対精度を提供する。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *高分解能 ,  光集積回路 ,  キャラクタリゼーション ,  *導波路
準シソーラス用語： *群屈折率 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (1件)： 光導波路,光ファイバ,繊維光学  (BD06030H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 導波路 ,  群屈折率 ,  高分解能 ,  光周波数領域反射測定法