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J-GLOBAL ID：201702276805058594   整理番号：17A0664089

NaNbO₃ドープBiFeO₃におけるひずみ誘起型の構造相転移

Strain induced structural phase transition in NaNbO₃ doped BiFeO₃

著者 (3件)： DE Manojit (Guru Ghasidas Vishwavidyalaya(A Central Univ.), C.G., IND) ,  PATEL Shiv P. (Guru Ghasidas Vishwavidyalaya(A Central Univ.), C.G., IND) ,  TEWARI H.S. (Guru Ghasidas Vishwavidyalaya(A Central Univ.), C.G., IND)
資料名： Journal of Materials Science. Materials in Electronics  (Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻： 28  号： 9  ページ： 6928-6935  発行年： 2017年05月 
JST資料番号： W0003A  ISSN： 0957-4522  CODEN： JMTSAS  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 反強誘電性のNaNbO₃でドープしたマルチフェロイックBiFeO₃であるBi_1-xNa_xFe_1-xNb_xO₃系(x=0.20~0.40)を,固相反応法で調製した。X線回折により,単一層が形成されていることを確認し,NaNbO₃濃度を増加させると,菱面体晶から立方晶系への相転移が起こることを観察した。電界放出型走査電子顕微鏡で,粒径が不均一なち密なセラミックが形成されていることが分かった。Raman分光でも,NaNbO₃濃度の増加による相転換を確認した。固溶体における構造相転移を,ドーピングで誘起される格子歪に基づいて説明した。

シソーラス用語： *構造相転移 ,  *ナトリウム化合物 ,  *ニオブ酸塩 ,  *ドーピング ,  *ビスマス化合物 ,  *鉄酸塩 ,  反強誘電性 ,  強磁性 ,  強弾性 ,  *強誘電性 ,  固相反応 ,  X線回折 ,  三方晶系 ,  立方晶系 ,  走査電子顕微鏡 ,  電子顕微鏡観察 ,  粒度 ,  変圧器 ,  センサ ,  集積回路 ,  記憶装置 ,  エネルギー分散X線分光分析
準シソーラス用語： *マルチフェロイック材料 ,  菱面体晶 ,  FE-SEM

分類 (1件)： 固体デバイス材料  (NC03020K)

タイトルに関連する用語 (5件)： ドープ ,  BiFeO3 ,  ひずみ ,  誘起 ,  構造相転移