文献

J-GLOBAL ID：201702276941035486   整理番号：17A1346036

低電圧金属酸化物バリスタの破壊へのエネルギー吸収能力と時間に及ぼす劣化の影響【Powered by NICT】

Degradation Effects on Energy Absorption Capability and Time to Failure of Low Voltage Metal Oxide Varistors

著者 (3件)： Khanmiri Dawood Talebi (Department of Electrical and Computer Engineering, Northeastern University, Boston, MA, USA) ,  Ball Roy (Mersen-USA, Newburyport, MA, USA) ,  Lehman Brad (Department of Electrical and Computer Engineering, Northeastern University, Boston, MA, USA)
資料名： IEEE Transactions on Power Delivery  (IEEE Transactions on Power Delivery)
巻： 32  号： 5  ページ： 2272-2280  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0340B  ISSN： 0885-8977  CODEN： ITPDE5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： サージ保護デバイスの信頼性は,その保護要素の健康に依存する。金属酸化物バリスタ(MOV)は,電気機器や配電系統に広く用いられている。高サージと長期過渡現象を経験するとき,それらは時間と共に劣化することが知られている。本論文では,120以上のMOVは異なるグループにおける40kAの公称820μs単極性および双極性サージを受ける,種々のレベルの分解に達した。,ac電流とエネルギー吸収能力(EAC)試験を受ける,UL認証実験室であった。EAC,ピーク電流,故障までの時間(TtFs)を測定し,解析した。結果は,サージによる劣化は与えられた電流におけるMOVのEACとTtFを減少させるかもしれないが,劣化したMOVの平均EACとTtFはある印加過電圧の増加することを示した。理由を説明し,過渡過電圧(TOV)条件における現実的な挙動を示すことを分解MOVのモデルを提案する。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *エネルギー吸収 ,  過電圧 ,  *金属酸化物 ,  電流 ,  配電系統 ,  *バリスタ ,  認証 ,  信頼性 ,  過渡現象
準シソーラス用語： 印加電圧 ,  ピーク電流 ,  単極性 ,  電気機器 ,  サージ保護 ,  *低電圧 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 保護装置  (NB09040T) ,  送電  (NB05030G)

タイトルに関連する用語 (5件)： 低電圧 ,  金属酸化物 ,  バリスタ ,  破壊 ,  エネルギー吸収能力