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J-GLOBAL ID：201702277220268535   整理番号：17A1056952

複雑なフレッチング往復滑りを受けるAg/Agめっき接触の電気的接触抵抗破壊の予測【Powered by NICT】

Prediction of electrical contact resistance failure of Ag/Ag plated contact subjected to complex fretting-reciprocating sliding

著者 (3件)： Laporte J. (LTDS, UMR 5513, Ecole Centrale de Lyon, 36 Avenue Guy de Collongue, 69134 Ecully Cedex, France) ,  Fouvry S. (LTDS, UMR 5513, Ecole Centrale de Lyon, 36 Avenue Guy de Collongue, 69134 Ecully Cedex, France) ,  Alquier O. (PSA - Centre Technique Velizy - Villacoublay, France)
資料名： Wear  (Wear)
巻： 376-377  号： PA  ページ： 656-669  発行年： 2017年 
JST資料番号： E0377A  ISSN： 0043-1648  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 電子コネクタは自動車産業で広く使用されている。しかし,エンジン振動に起因して,フレッチング摩耗損傷は,電気的接触抵抗を崩壊することができる。小フレッチング振動に加えて,コネクタはクリッピング/unclipping,電気接触抵抗(ECR)耐久性(すなわち,ΔRは>ΔRc=4mΩとNcフレッチングサイクル)にも影響を受ける。この複雑なトライボロジー・プロセスを調べるために,均一なAg Ni/Ag Ni(2μm)コンタクトは,間欠的ミリメートル往復滑りと組合された一定フレッチング滑り(δ~*_g=±9μm)に供した。解析の結果,往復軌道からの銀材料をフレッチングはん痕による,ECR耐久性は直線的に増加したことを示した。往復脳卒中(0.25mmから1.5mmにD)が大きいほど,耐久性大きかった。に加えて,往復滑り配列間のN_fフレッチング期間が非常に長い場合,往復の正の効果は減少した。往復銀移動速度とフレッチング摩耗速度の両方を発現する,ECR耐久性のグローバルモデルを提案した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 瘢痕 ,  *接触抵抗 ,  被覆 ,  耐久性 ,  コネクタ ,  トライボロジー ,  脳卒中 ,  自動車工業 ,  *銀 ,  *銀めっき
準シソーラス用語： 移動速度 ,  クリッピング ,  フレッチング摩耗 ,  *往復滑り ,  *フレッチング , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： 銀被覆 ,  フレッチング摩耗 ,  往復滑り ,  電気接触抵抗

分類 (2件)： 金属の機械的性質  (BL01022T) ,  潤滑一般  (QB02010S)

タイトルに関連する用語 (7件)： フレッチング ,  往復滑り ,  Ag ,  Agめっき ,  接触抵抗 ,  破壊 ,  予測