LIN Yung-Chang について
National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN について
MORISHITA Shigeyuki について
JEOL Ltd., Tokyo, JPN について
KOSHINO Masanori について
National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN について
YEH Chao-Hui について
National Tsing Hua Univ., Hsinchu, TWN について
TENG Po-Yuan について
National Tsing Hua Univ., Hsinchu, TWN について
CHIU Po-Wen について
National Tsing Hua Univ., Hsinchu, TWN について
SAWADA Hidetaka について
JEOL Ltd., Tokyo, JPN について
SUENAGA Kazutomo について
National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol. (AIST), Tsukuba, JPN について
SUENAGA Kazutomo について
Univ. Tokyo, Tokyo, JPN について
Nano Letters について
一次元 について
不安定性 について
Peierls転移 について
グラフェン について
電子ビーム について
透過型走査電子顕微鏡 について
細線 について
二量化 について
電子エネルギー損失分光法 について
炭素 について
分子鎖 について
二量体化 について
環状暗視野 について
原子鎖 について
顕微鏡法 について
炭素とその化合物 について
炭素 について
原子鎖 について
予想 について