抄録/ポイント:
抄録/ポイント
文献の概要を数百字程度の日本語でまとめたものです。
部分表示の続きは、JDreamⅢ(有料)でご覧頂けます。
J-GLOBALでは書誌(タイトル、著者名等)登載から半年以上経過後に表示されますが、医療系文献の場合はMyJ-GLOBALでのログインが必要です。
次世代パワー半導体デバイスの実装信頼性の向上を目指した熱膨張係数(CTE)マッチングメタライズ膜として,無電解めっき法を用いて鉄-ニッケル(Fe-Ni)合金膜の作製を試みた。Fe含有率が0~70wt%の無電解Fe-Ni合金めっき皮膜が得られた。成膜しためっき膜はクラックやボイド等の顕著な欠陥は観察されなかった。めっき皮膜中の鉄含有率が増大するに伴い,ホウ素含有率は減少し,めっき速度も低下した。これらの皮膜の熱膨張特性を測定した結果,インバー組成領域のFe含有率55及び64wt%の無電解Fe-Ni合金めっき皮膜は,ニッケルめっき皮膜に比べ,半分以下の熱応力変化値を示した。そのCTEは約8ppm/°Cを示し,アルミナ基板のCTE(7.4ppm/°C)と同等であることから,次世代パワー半導体の高信頼性メタライズ膜として有望である。今後,熱伝導性や耐熱衝撃性に優れた窒化アルミ及び窒化ケイ素基板にも対応した無電解めっき法によるインバー合金膜作製プロセスの高度化及び実用化に向けた検討を行う予定である。(著者抄録)