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J-GLOBAL ID：201702278138956312   整理番号：17A1252674

バッチ粉粒体プロセスの部分空間同定と予測制御【Powered by NICT】

Subspace identification and predictive control of batch particulate processes

著者 (2件)： Garg Abhinav (Department of Chemical Engineering, McMaster University, Hamilton, Canada) ,  Mhaskar Prashant (Department of Chemical Engineering, McMaster University, Hamilton, Canada)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： ACC  ページ： 505-510  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,バッチ晶析装置における結晶粒径分布(CSD)制御への応用を用いたバッチ粒子プロセスの部分空間同定ベースモデル化と予測制御の問題を検討した。この目的のために,部分空間同定法は,バッチ系の微粒子プロセスのための線形時間不変モデルを同定するために適応した最初のものである。推定されたモデルは,操作される入力と製品品質の制約双方に支配される,所望特性を持つ粒径分布を達成するための線形モデル予測制御(MPC)定式化に展開される。提案されたアプローチは,種晶添加回分晶析装置プロセスに実装し,開ループ政策だけでなく,PIコントローラに基づく軌道追跡政策と比較した。提案したMPCは,27%と30%の改善を達成することを示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 製品品質 ,  *予測制御 ,  種結晶 ,  微粒子 ,  *ロット ,  粒度分布 ,  晶析装置 ,  線形性 ,  *粉粒体 ,  定式化 ,  結晶粒径 ,  モデリング
準シソーラス用語： 軌道追跡 ,  モデル予測制御 ,  *部分空間同定 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： システム同定  (IA02040O) ,  晶析  (XD02070T)

タイトルに関連する用語 (5件)： バッチ ,  粉粒体 ,  プロセス ,  部分空間同定 ,  予測制御