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J-GLOBAL ID：201702279272497671   整理番号：17A1279794

SiO2f/SiO2複合材料と金属ニオブ環形ろう付継手の残留応力の数値シミュレーション【JST・京大機械翻訳】

著者 (4件)： Guo Shaoqing (北京航空材料研究院 han接与塑性成形研究所,北京,100095) ,  Wu Shibiao (北京航空材料研究院 han接与塑性成形研究所,北京,100095) ,  Xiong Huaping (北京航空材料研究院 han接与塑性成形研究所,北京,100095) ,  Chen Bo (北京航空材料研究院 han接与塑性成形研究所,北京,100095)
資料名： Hanjie Xuebao  (Hanjie Xuebao)
巻： 38  号： 3  ページ： 67-70  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2489A  ISSN： 0253-360X  CODEN： HHPAD2  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： セラミック基複合材料SiO2f/SiO2と金属ニオブ環形ろう付継手の残留応力に対して有限要素数値シミュレーションを行った。結果により、継手には大きい半径方向引張応力σyと周方向界面せん断応力τyxが存在し、そのピーク値はそれぞれ1047MPaと329MPaであることが分かった。溶接部に近いSiO2f/SiO2中に応力集中が存在するため、溶接後の冷却過程はまず破壊されやすい。SiO2f/SiO2接合面における溝加工溝は,残留応力を効果的に緩和し,σyとτyxピーク値は,それぞれ731MPaと230MPaに減少した。溝のないろう付と比較して,溶接継手の界面におけるSiO2f/SiO2の表面において,溝のろう付は,200MPaから81MPaまで減少して,τyxは230MPaから53MPaまで減少した。セラミックの表面に溝を開けた後、ろう付けにより引き起こされる応力の緩和は、亀裂を避け、継手の強度と信頼性を向上させるのに有利である。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *ろう付継手 ,  亀裂 ,  応力集中 ,  *複合材料 ,  *ろう付 ,  *残留応力 ,  溶接 ,  *ニオブ ,  溶接継手 ,  ピーク値 ,  界面 ,  *環状体 ,  セラミック ,  溶接部
準シソーラス用語： *数値シミュレーション , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 溶接部  (WC07100I) ,  金属材料  (HC05020S)

タイトルに関連する用語 (7件)： SiO2 ,  複合材料 ,  ニオブ ,  環形 ,  ろう付継手 ,  残留応力 ,  数値シミュレーション