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J-GLOBAL ID:201702279581503631   整理番号:17A1350537

熱エージングと温度エクスカーション下手術時のSACボールグリッドアレイにおける歪振幅の進化に及ぼす平均温度の影響【Powered by NICT】

Effect of Mean Temperature on the Evolution of Strain-Amplitude in SAC Ball-Grid Arrays during Operation under Thermal Aging and Temperature Excursions
著者 (4件):
資料名:
巻: 2017  号: ECTC  ページ: 1027-1038  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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自動車用エレクトロニクスは車線逸脱警報,衝突回避,駆動補助装置,および適応クルーズ制御を含む安全性重要システムの数に使用できる可能性がある。さらに,完全電気自動車のエレクトロニクスは,発電と管理に用いることができる。自動車エレクトロニクスはエンジンまたは透過または自動車のベースに搭載される可能性があり,環境温度極値に加えて操作温度エクスカーションを受ける可能性がある。さらに,自動車エレクトロニクスシステムは周囲環境低または高温度での貯蔵の延長期間を受ける可能性がある。10年間の自動車ベンチマークのための信頼性のある運転を保証するためのエレクトロニクスの熱機械的信頼性の消費寿命,余寿命,スポット評価の積極的な評価のためのツールと技術が必要である,100,000マイル。本研究では,熱サイクル信頼性に及ぼす熱時効の効果と歪の進展は,デジタル画像相関を用いて研究した。老化の長期間に曝された鉛フリー集合体は続いて熱サイクルに供した後,はんだ接合で経験した歪振幅は,デジタル画像相関を用いて測定した。これらの歪み状態の結果は,損傷マッピングモデルを開発するためにミクロ組織的損傷率(別の研究から得られた)と相関していた。最後に,寿命モデルの新しいアプローチと共に残存有効寿命(RUL)推定法は微細構造損傷速度に基づいて提示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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電装品 

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