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J-GLOBAL ID:201702280397393053   整理番号:17A1382850

MeVH+~+衝撃炭素による放出電子の数分布【Powered by NICT】

Number distribution of emitted electrons by MeV H+ impact on carbon
著者 (5件):
資料名:
巻: 406  号: PB  ページ: 487-490  発行年: 2017年 
JST資料番号: H0899A  ISSN: 0168-583X  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: オランダ (NLD)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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薄い炭素箔からの前方および後方放出二次電子(SE’s)数の統計的分布を0.5MeV段階で0.5 3~3.0MeVの箔透過H~+イオンを同時計数で測定した。測定したSEエネルギースペクトルを同時n SE放出確率のためのPolya分布を仮定して適合させた。種々の厚さの対炭素箔の我々の以前のデータは,同様の解析を行った。その結果,測定したスペクトルは前方と後方のSE放出の放出確率に制限を置くこと無しに分析によるだけでなく再現できることが分かった。高エネルギー内部SEによるカスケード増殖のによるPoisson分布からの偏差の尺度である,Polya分布の得られたb パラメータは陽子ビームの入射エネルギーと共に単調に増加する。一方,明確な厚依存性はb パラメータでは観察されない。厚いAu,CuおよびAlターゲットを用いて得られたSEエネルギースペクトルのb パラメータの大きさを再現できる理論モデルは薄い炭素箔の値を著しく過大評価することが分かった。もう一つのモデル計算は,b値を非常に良く再現することが分かった。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (2件):
分類
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Auger電子放出,二次電子放出  ,  チャネリング,ブロッキング,粒子のエネルギー損失 
タイトルに関連する用語 (5件):
タイトルに関連する用語
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