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J-GLOBAL ID：201702280616617985   整理番号：17A0214306

垂直STT-MRAMのためのデータ保持抽出方法論【Powered by NICT】

Data retention extraction methodology for perpendicular STT-MRAM

著者 (11件)： Tillie L. (CEA-LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Nowak E. (CEA-LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Sousa R. C. (SPINTEC, Univ. Grenoble Alpes / CEA / CNRS, Grenoble, France) ,  Cyrille M.-C. (CEA-LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Delaet B. (CEA-LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Magis T. (CEA-LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Persico A. (CEA-LETI, Minatec Campus, Grenoble, France) ,  Langer J. (Singulus Technologies AG, Kahl am Main, Germany) ,  Ocker B. (Singulus Technologies AG, Kahl am Main, Germany) ,  Prejbeanu I-L (SPINTEC, Univ. Grenoble Alpes / CEA / CNRS, Grenoble, France) ,  Perniola L. (CEA-LETI, Minatec Campus, Grenoble, France)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2016  号： IEDM  ページ： 27.3.1-27.3.4  発行年： 2016年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 垂直STT-MRAMは有望な次世代メモリとして見られたが,保持は重要になると正確に特性化する必要がある。正確さと精度に特別な強調を説明した四抽出法。各方法の限界と利点を示すために,次にkbアレイから直径細胞50~250nmと235°Cまで単一細胞から適用した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *記憶装置 ,  キャラクタリゼーション
準シソーラス用語： *データリテンション , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (9件)： R,L,C,Q,インピーダンス,誘電率の計測法・機器  (AD07030N) ,  液体クロマトグラフィー  (CC04014L) ,  細菌による植物病害  (FC04053P) ,  制御機器一般  (IC02010N) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I) ,  半導体集積回路  (NC03162T) ,  記憶装置  (JC04060F) ,  微生物感染の生理と病原性  (EG03053T) ,  伝送回路素子一般  (NC04010G)

タイトルに関連する用語 (4件)： 垂直 ,  STT-MRAM ,  データ保持 ,  方法論