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J-GLOBAL ID:201702280921494496   整理番号:17A1115010

μXRF元素マッピングを用いた微細形態学的薄片における考古学的金属はの特性化【Powered by NICT】

Characterization of Archaeological Metal Remains in Micromorphological Thin Sections Using μXRF Elemental Mapping
著者 (6件):
資料名:
巻: 32  号:ページ: 311-318  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2581A  ISSN: 0883-6353  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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考古学的プロファイルから得られた薄片の土壌微細形態学的検査は,地質考古学において良く確立された方法である。しかし,金属介在物(形状と化石生成論ではなく元素組成)の性質に関する限られた情報を提供する。実験室マイクロX線蛍光(μXRF)元素マッピングは,薄片を行った樹脂含浸堆積物ブロックに直接適用できる非破壊技術である。しかし,樹脂ブロックは最終薄片に比較されるわけではなく,いくつかの材料は製造過程で失われ,ミリメートルサイズの特徴の研究に影響する,金属フラグメントまたはhammerscaleのような,特別な部位で起こる金属加工の型を決定するための本質的な特徴である。本研究では,被覆された薄片から直接得られたμXRF元素マップの可能性を調べた。著者らの実験は,金属フラグメントの同定(Fe, Cu, Zn, As, Ag, Sn, Au, Pb)に対する有用な元素の広いアレイがcoverslipped断面でも検出可能であることを示した。この結論は自身をから薄切片を作成したレジンブロックを超えたμXRFの可能性を拡張し,薄片中の金属フラグメントへ,考古学的解釈を,伝統的な技術によって失われた情報,光学顕微鏡などを提供した。Copyright 2017 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (5件):
分類
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腐食基礎理論,腐食試験  ,  地質学一般  ,  分光分析  ,  機械的性質  ,  金属組織観察法 

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