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J-GLOBAL ID：201702280932701900   整理番号：17A1723729

DUVとXUVスペクトル領域における高精度Ramseyコム分光法【Powered by NICT】

High-precision Ramsey-comb spectroscopy in the DUV and XUV spectral region

著者 (4件)： Dreissen L. S. (Laser LaB Amsterdam, Vrije Universiteit Amsterdam, De Boelelaan 1081, 1081 HV Amsterdam, The Netherlands) ,  Altmann R. K. (Laser LaB Amsterdam, Vrije Universiteit Amsterdam, De Boelelaan 1081, 1081 HV Amsterdam, The Netherlands) ,  Roth C. (Laser LaB Amsterdam, Vrije Universiteit Amsterdam, De Boelelaan 1081, 1081 HV Amsterdam, The Netherlands) ,  Eikema K. S. E. (Laser LaB Amsterdam, Vrije Universiteit Amsterdam, De Boelelaan 1081, 1081 HV Amsterdam, The Netherlands)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CLEO/Europe-EQEC  ページ： 1  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 量子電気力学(QED)理論は,高精度[1]で試験した。しかし,原子水素におけるQED試験は現在陽子電荷半径の実験的に決定した値によって制限される。分光測定はミュー粒子原子(μHとμD)を用いて一桁高い精度の次数と陽子及び重陽子電荷半径を決定した。しかし,これらの値は,CODATA2010値[2]とa>7不一致を示した。このいわゆる陽子半径パズルを解決に寄与するために,以前の結果[3]よりも高い精度を~2×202nmでの分子状水素(H_2)におけるEF←X遷移周波数を決定したほぼ二桁した。~30nmにおける単一イオン化ヘリウムにおける1S-2S遷移を測定するための装置を構築している。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 周波数 ,  量子電気力学 ,  ヘリウム ,  水素 ,  イオン化 ,  重陽子 ,  μ粒子原子 ,  *スペクトロスコピー ,  陽子
準シソーラス用語： 分子状水素 ,  次数 ,  荷電半径 ,  *高精度 , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： エキゾチック原子・分子  (BH09010S) ,  宇宙論  (DB07000D)

タイトルに関連する用語 (3件)： スペクトル ,  コム ,  分光法