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J-GLOBAL ID：201702281522767222   整理番号：17A1287529

0.35μm CMOSプロセスの品質因子時間領域測定回路【JST・京大機械翻訳】

Circuit of time-domain quality factor measurement in 0.35μm CMOS process

著者 (5件)： Ren Xiaojiao (西安電子科技大学 微電子学院,陜西 西安,710071) ,  Zhang Ming (基礎電子研究所 巴黎第十一大学,巴黎薩克雷大学,奥賽 91405) ,  LLASER Nicolas (基礎電子研究所 巴黎第十一大学,巴黎薩克雷大学,奥賽 91405) ,  Yue Baihe (西安電子科技大学 微電子学院,陜西 西安,710071) ,  Zhuang Yiqi (西安電子科技大学 微電子学院,陜西 西安,710071)
資料名： Xi’an Dianzi Keji Daxue Xuebao  (Xi'an Dianzi Keji Daxue Xuebao)
巻： 44  号： 2  ページ： 75-80  発行年： 2017年 
JST資料番号： W0859A  ISSN： 1001-2400  CODEN： XDKXEP  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 品質因子の時間領域測定方法に基づき、新しいチップに集積された品質因子測定回路を提案し、特定の周波数で品質係数の正確な測定を実現するだけでなく、回路の精度を保つ前提で、一定の信号の周波数帯をカバーすることができる。以前に提案された再構成可能回路に基づいて,ピーク検出器の補償方法を改良し,システムの精度とスペクトル拡散の理論解析を行い,回路の設計を効果的に導いたことが示されたことが示されたことが示されたことが示されたことが示されたことが示された。また、デジタル制御ロジックの改善により、総消費電力を7.5%低下させることができる。回路を0.35μm CMOSプロセスで実現し,入力電圧が5V,入力信号周波数が1MHzのとき,品質係数の相対誤差は±0.2%以下で,精度は不変であった。測定信号の周波数帯を100kHz~1.5MHzまで拡張した。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： *CMOS ,  ディジタル制御 ,  周波数 ,  消費電力 ,  スペクトル拡散 ,  周波数帯
準シソーラス用語： 相対誤差 ,  入力信号 ,  入力電圧 ,  理論解析 ,  ピーク検出 ,  再構成可能性 ,  品質係数 ,  *測定回路 ,  *品質因子 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (3件)： quality factor (Q-factor) ,  time domain measurement ,  on-chip

分類 (3件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  周波数変換回路  (NC05030J) ,  フィルタ一般  (NC04021I)

タイトルに関連する用語 (4件)： CMOSプロセス ,  品質因子 ,  時間領域 ,  測定回路