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J-GLOBAL ID：201702282069053173   整理番号：17A1274685

マイクロ-およびナノエレクトロニクスの材料と構造を研究するための実験的方法の計算機シミュレーション【Powered by NICT】

Computer simulation of experimental methods to investigate materials and structures of micro- and nanoelectronics

著者 (4件)： Kholomina T. A. (Ryazan state radio engineering university, Department of micro- and nanoelectronics, Ryazan, Russia) ,  Malchenko S. I. (Ryazan state radio engineering university, Department of micro- and nanoelectronics, Ryazan, Russia) ,  Gudzev V. V. (Ryazan state radio engineering university, Department of micro- and nanoelectronics, Ryazan, Russia) ,  Rybin N. B. (Ryazan state radio engineering university, Department of micro- and nanoelectronics, Ryazan, Russia)
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： MECO  ページ： 1-5  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 固体エレクトロニクスとナノエレクトロニクスのための材料と構造の特性を調べるための方法を実現する実験室錯体の基本原理と実装を論じた。実験室錯体を開発した:固体誘電体の抵抗を研究している金属合金の熱分析DLTS法を用いて深い準位のスペクトルの解析。仮想実験室錯体は,工学的グラフィカルプログラミングNI LabVIEW環境で開発した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 錯体 ,  深準位過渡分光法 ,  固体誘電体 ,  深い準位 ,  *計算機シミュレーション ,  合金 ,  スペクトル ,  *電子技術 ,  熱分析
準シソーラス用語： LabVIEW ,  仮想実験室 ,  *ナノエレクトロニクス , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 不純物・欠陥の電子構造  (BM02100I) ,  半導体の格子欠陥  (BK12040Q)

タイトルに関連する用語 (4件)： ナノエレクトロニクス ,  研究 ,  実験 ,  計算機シミュレーション