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J-GLOBAL ID：201702282265571821   整理番号：17A1744559

広い範囲の走査型イオン伝導顕微鏡に基づく形態と体積測定法を示した。【JST・京大機械翻訳】

Topography and Volume Measurement Method Based on Large-scale Scanning Ion Conductance Microscopy

著者 (3件)： Guo Renfei (西安交通大学机械工程学院,陜西西安,710049) ,  Zhuang Jian (西安交通大学机械工程学院,陜西西安,710049) ,  Yu Dehong (西安交通大学机械工程学院,陜西西安,710049)
資料名： Dianzi Xuebao  (Dianzi Xuebao)
巻： 45  号： 5  ページ： 1072-1077  発行年： 2017年 
JST資料番号： C2504A  ISSN： 0372-2112  CODEN： TTHPAG  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 既存の測定方法による大規模サンプル表面の全体と局部形態の三次元高分解能測量と体積計算の不足を同時に実現することができないため、形態と体積測定方法を提案した。本論文では、まず広範囲の走査型イオン伝導顕微鏡(Large-scale Scanning Ion Conductance Microscopy、L-SICM)システムを構築した。データモザイク技術を用いて、現在のSICMシステムの水平測定範囲を拡張することにより、サンプル形態の広範囲な三次元高分解能測定を実現し、最後に背景移動などのデジタル画像処理技術を結合して、対象物の体積を計算する。サブミクロン試料の実験結果により,L-SICMに基づく測定方法は,大規模サンプルの全体的および局所的形態の三次元高分解能測定および体積計算を,効果的に達成し,そして,光学的測定方法によって導入された非線形誤差を避けることができた。また、より小さい水平走査ステップ(125nm)を用いて、5.82%の体積測定誤差と38.12%の測定標準偏差を減少させることができ、システム測定の正確性と安定性を向上させた。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】

シソーラス用語： 測定誤差 ,  *走査 ,  高分解能 ,  標準偏差 ,  三次元 ,  *体積測定 ,  光学的測定
準シソーラス用語： 正確性 ,  デジタル画像処理 ,  *走査型イオン伝導顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (4件)： topography and volume measurement ,  scanning ion conductance microscopy ,  large-scale ,  data stitching

分類 (1件)： 図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (3件)： 走査型イオン伝導顕微鏡 ,  形態 ,  体積測定