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J-GLOBAL ID:201702282319676777   整理番号:17A0211401

軟X線分光法を利用したin-situ/operando分析の進展

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巻: 59  号: 12  ページ: 333-340(J-STAGE)  発行年: 2016年 
JST資料番号: G0194A  ISSN: 1882-2398  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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近年では様々な分野において”in-situ測定”や”operando測定”と呼ばれる測定が活発になり,軟X線分光の分野でも大気圧環境下測定が行われている。ヘリウムパス(ヘリウムで満たされた試料環境)や水溶液中での軟X線利用のために圧力差対策が必要になる。一つの方法は,”真空窓”の利用であり,ビームラインの途中に配置されるか,”セル”と呼ばれる密封容器を作製する方法で用いられる。他の一つの方法は差動排気の利用である。ヘリウムパスを用いたその場観察の例として,水和物試料の吸収分光測定,高温雰囲気制御軟X線吸収分光測定を紹介する。セルを利用したその場観察測定の現状も紹介する。その他の軟X線分光法として,軟X線発光分光法,光電子分光法についても述べる。
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分類 (1件):
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X線技術 
引用文献 (58件):
  • 1) W. Gudat and C. Kunz: Phys. Rev. Lett., 29 (1972) 169.
  • 2) J. Stöhr: NEXAFS Spectroscopy (Springer, Berlin, 1992).
  • 3) B. X. Yang and J. Kirz: Phys. Rev. B, 36 (1987) 1361.
  • 4) M. D. Roper, G. van der Laan, J. V. Flaherty and H. A. Padmore: Rev. Sci. Instrum., 63 (1992) 1482.
  • 5) A. Kivimaki, K. Maier, U. Hergenhahn, M. N. Piancastelli, B. Kempgens, A. Rudel and A. M. Bradshaw: Phys. Rev. Lett., 81 (1998) 301.
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