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J-GLOBAL ID：201702282387365878   整理番号：17A0856604

ニッケル被覆セルアレイ上での再構成可能な受動相互変調挙動【Powered by NICT】

Reconfigurable Passive Intermodulation Behavior on Nickel-Coated Cell Array

著者 (2件)： Chen Xiong (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xian, China) ,  He Yongning (School of Electronics and Information Engineering, Xi’an Jiaotong University, Xian, China)
資料名： IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility  (IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility)
巻： 59  号： 4  ページ： 1027-1034  発行年： 2017年 
JST資料番号： H0383A  ISSN： 0018-9375  CODEN： IEMCAE  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 本論文では,再構成可能なニッケル被覆セルアレイに受動相互変調(PIM)挙動に関する現象論的研究を提示した。再構成可能な非線形性を持つ人工伝送線路をPIM発生と伝搬挙動を実証するために使用した。試験固定具を非線形源を刺激する結合パワーを用いて金属接触歪を排除した。有限要素解析を用いて,シミュレートした磁場強度は,試験したPIMデータと比較した。ニッケル被覆分布PIM源に向けて非解析的PIMモデルのセットを実証した。提案したPIM固定具に基づいて,非線形性アレイを用いた新しいPIM再構成法を提案し,強度予測可能なPIM標準が得られた。提案した試験装置は,安定したPIM参照を提供するための実用的なPIMビルディングブロックとして機能することができる。三PIM試験周波数スポットに関するデモの場合,このデバイスの最小PIMは 112dBm@2×43dBm以下で達することができるが,その最大PIMダイナミックレンジは約20dBに達した。実用PIM試験校正場に適用できるPIM標準の原基を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： 伝送線路 ,  *ニッケル ,  *再構成 ,  *相互変調 ,  周波数 ,  固定具 ,  *被覆 ,  ダイナミックレンジ ,  試験装置 ,  非線形性
準シソーラス用語： ビルディングブロック ,  磁場強度 ,  有限要素解析 ,  *再構成可能性 ,  *セルアレイ , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： アンテナ  (ND06000M) ,  雑音測定  (ND04030F)

タイトルに関連する用語 (5件)： ニッケル ,  セルアレイ ,  再構成 ,  相互変調 ,  挙動