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J-GLOBAL ID：201702282504214049   整理番号：17A1498825

誘導放出抑制(STED)顕微鏡法における収差【Powered by NICT】

Aberrations in stimulated emission depletion (STED) microscopy

著者 (4件)： Antonello Jacopo (Centre for Neural Circuits and Behaviour, University of Oxford, Mansfield Road, Oxford, OX1 3SR, UK) ,  Burke Daniel (Centre for Neural Circuits and Behaviour, University of Oxford, Mansfield Road, Oxford, OX1 3SR, UK) ,  Booth Martin J. (Centre for Neural Circuits and Behaviour, University of Oxford, Mansfield Road, Oxford, OX1 3SR, UK) ,  Booth Martin J. (Department of Engineering Science, University of Oxford, Parks Road, Oxford, OX1 3PJ, UK)
資料名： Optics Communications  (Optics Communications)
巻： 404  ページ： 203-209  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0678B  ISSN： 0030-4018  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 超解像顕微鏡の全ての方法と同様に,誘導放出空乏(STED)顕微鏡法は収差の影響を受ける可能性がある。STED顕微鏡の最も重要な特徴は,高強度の領域により囲まれていることを最小,理想的に零強度点を維持する枯渇焦点ことである。はこの最小強度の非ゼロ値の原因となる異常が最も有害であることを,それらは空乏焦点の中心でも蛍光発光を阻害した。二次元と三次元STED分解能向上のための焦点で異なる偏波成分の観点でそれらの効果の性質を解明する解析を提示した。の一部が低次収差モードをGauss焦点で最小強度に影響を与えることができることが分かった。これは適応光学収差補正システムの設計のための重要な結果である。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： *収差 ,  適応光学 ,  分解能 ,  超解像 ,  収差補正 ,  *誘導放出 ,  偏波 ,  *顕微鏡 ,  光学系 ,  二次元 ,  *顕微鏡観察 ,  三次元
準シソーラス用語： 蛍光発光 ,  高強度 ,  STED顕微鏡 , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： 収差補正 ,  適応光学 ,  高開口数光学系 ,  誘導放出欠乏の顕微鏡法 ,  超解像顕微鏡法

分類 (2件)： 光の像形成  (BD03050I) ,  光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (3件)： 誘導放出 ,  顕微鏡法 ,  収差