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J-GLOBAL ID:201702282679062302   整理番号:17A1727278

クロスポイントアレイにおける漏れのための計算効率の良いコンパクトモデル【Powered by NICT】

A computationally efficient compact model for leakage in cross-point array
著者 (5件):
資料名:
巻: 2017  号: SISPAD  ページ: 141-144  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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高集積密度を考慮した魅力的であるが,クロスポイントアーキテクチャは,アレイを横切る抜け道を通る漏れに悩まされている。漏れ電流は半分accessedを通って流れる,ある場合には,unaccessed細胞(および対応する漏れ電力)は,アレイ性能の重要な決定因子である。これら成分の適切な推定は計算的に困難であり,しばしば厳密なシミュレーションの努力を必要とする。しきい値スイッチセレクタを用いたクロスポイントアレイの漏れを評価するための計算的に効率的なコンパクトモデルを提案した。モデルを支配し,導出方法論を説明する閉じた形の数学的表現を提供する。従来の厳密なアレイシミュレーションからの結果とクロスチェックによるモデルの妥当性を分析し,検証した。モデルは,異なるアレイの大きさ(16×16 256×256年)のための厳密なシミュレーションと優れたマッチング(~99%の精度)を示した。モデルは様々な範囲セレクタOFF抵抗(0.1ΜΩ1ΟΩ),相互接続抵抗(1mΩ/□10Ω/□)とアクセス電圧(0.2Vから1V)で試験した。モデルからの試験結果は,集中的なアレイシミュレーションから得られた結果と比較して正確な応答を示した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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分類 (1件):
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半導体集積回路 
タイトルに関連する用語 (3件):
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