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J-GLOBAL ID：201702283113899308   整理番号：17A0642143

F₁₆CuPc/TiO₂界面における相互作用:光電子分光とX線吸収研究

Interaction at the F₁₆CuPc/TiO₂ Interface: A Photoemission and X-ray Absorption Study

著者 (4件)： SINHA Sumona (Saha Inst. of Nuclear Physics, Kolkata, IND) ,  ISLAM A. K. M. Maidul (Aliah Univ., Kolkata, IND) ,  VOROKHTA Mykhailo (Charles Univ., Prague, CZE) ,  MUKHERJEE Manabendra (Saha Inst. of Nuclear Physics, Kolkata, IND)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 121  号： 6  ページ： 3365-3372  発行年： 2017年02月16日 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： TiO₂表面上の分子レベルの有機薄膜の系が有機電子素子の観点から注目されている。ここではルチル型TiO₂(110)表面とこの上に設置したF₁₆CuPc分子薄膜の界面での相互作用,分子配向そして電荷移動のダイナミクスを,F₁₆CuPc分子薄膜の厚みを単層以下から多層膜まで変化させて調べた。光電子分光スペクトルの変化からF₁₆CuPc分子がTiO₂表面と強く結合していること,そして基板のTiO₂に媒介されて₁₆CuPcの窒素原子から炭素環に向かって電子が引き離され,厚みとともにC 1sおよびN 1sの反対方向への結合エネルギーシフトが生じること,そしてF₁₆CuPc分子の変形が起こることを示した。またそれらの間での強い結合の為に,F₁₆CuPc分子からTiO₂基板へ極めて速い電荷移動が起こることも示した。

シソーラス用語： *フタロシアニン錯体 ,  *銅錯体 ,  *酸化チタン ,  *相互作用 ,  界面 ,  光電子分光法 ,  *電荷移動 ,  分子配向 ,  *超薄膜 ,  X線吸収分光法
準シソーラス用語： 界面相互作用 ,  有機超薄膜

分類 (5件)： 塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  第11族,第12族元素の錯体  (CE01050Y) ,  吸着の電子論  (CB12042Y) ,  その他の接合  (BM03088W) ,  有機化合物の薄膜  (BK14070L)

物質索引 (1件)： 2¹,2²,2³,2⁴,7¹,7²,7³,7⁴,12¹,12²,12³,12⁴,17¹,17²,17³,17⁴-ヘキサデカフルオロフタロシアニン

タイトルに関連する用語 (6件)： TiO2 ,  界面 ,  相互作用 ,  光電子分光 ,  X線吸収 ,  研究