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J-GLOBAL ID:201702283246841510   整理番号:17A1648465

低電圧スイッチング素子の接触表面上の諸過程の研究【Powered by NICT】

Research of processes on contact surfaces of low-voltage swiching devices
著者 (2件):
資料名:
巻: 2017  号: ICIEAM  ページ: 1-4  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
抄録/ポイント:
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電気システム,その成分,ケーブルの運転では,スイッチング素子は電流によって加熱される。電流がスイッチオンされるので,導体が受けたすべての熱がその温度冷却の不在下で直線的に上昇することを増加させるために費やされる。実際には,加熱は,環境への熱損失が続いた。また導体表面と環境の温度差の増加に伴って増加するこの損失の速度。ケーブルコア中の温度上昇の速度は遅く,温度は,熱バランスを提供する最高の極値への傾向があった。電気接触における熱と電気物理現象の間の通信に起因する低電圧スイッチングデバイスの加熱に及ぼす熱電効果の影響を考察した。接触表面実際プラットフォーム半径とスイッチングデバイス電流に依存する接触基締付けの抵抗サイズの研究を提供した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】
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, 【Automatic Indexing@JST】
分類 (1件):
分類
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電線・ケーブル 
タイトルに関連する用語 (5件):
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