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J-GLOBAL ID:201702283348083861   整理番号:17A1791336

非溶接式ナノワイヤ機械的性能試験デバイス構造設計【JST・京大機械翻訳】

Design of a MEMS Device for Mechanical Property Testing of Nanowires without Welding
著者 (5件):
資料名:
巻: 30  号:ページ: 831-835  発行年: 2017年 
JST資料番号: C2450A  ISSN: 1004-1699  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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ナノワイヤの機械的性質の試験において、通常のMEMSデバイスのほとんどは、溶接又は堆積方式によってナノワイヤを固定し、デバイスの寿命とテスト再現性を制限している。溶接方式試験の不足に対して、非溶接式ナノワイヤの機械的性質を測定するMEMSデバイスを設計した。静電交差指と支持梁の構造に基づいて,梁の剛性差を用いてクランプと引張操作を行う構造を設計し,その中で,構造を避けて溶接ナノワイヤを避けるように設計した。有限要素シミュレーションソフトウェアを用いてシミュレーションを行い、最適な構造寸法を確定し、V型の隙間角度が22.5°より小さい時、ナノワイヤの機械的性質のテスト要求を満たし、設計したデバイスはテストデバイスの再利用率を高めた。Data from Wanfang. Translated by JST【JST・京大機械翻訳】
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分類 (3件):
分類
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固体デバイス材料  ,  固体デバイス計測・試験・信頼性  ,  塩基,金属酸化物 

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