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J-GLOBAL ID：201702283555711067   整理番号：17A1452778

すず石の二次イオン質量分析(SIMS)分析に及ぼす結晶方位効果の評価【Powered by NICT】

Assessment of crystallographic orientation effects on secondary ion mass spectrometry (SIMS) analysis of cassiterite

著者 (3件)： Carr Patrick A. (Research School of Earth Sciences, The Australian National University, Canberra, ACT 2601, Australia) ,  Norman Marc D. (Research School of Earth Sciences, The Australian National University, Canberra, ACT 2601, Australia) ,  Bennett Vickie C. (Research School of Earth Sciences, The Australian National University, Canberra, ACT 2601, Australia)
資料名： Chemical Geology  (Chemical Geology)
巻： 467  ページ： 122-133  発行年： 2017年 
JST資料番号： A0081A  ISSN： 0009-2541  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： オランダ (NLD)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： U-Pb及びO同位体のイオンマイクロプローブ分析の結晶学的配向効果は多くの酸化物鉱物の,ルチル(TiO_2)およびバデレアイト(ZrO_2)を含む報告されている。ここでは,すず石(SnO_2)に及ぼすイオンマイクロプローブにより測定したU-PbとO同位体データに及ぼす結晶方位の影響は,ルチルと等構造であることを評価した。すず石の搭載し研磨した結晶粒の結晶学的方位を電子後方散乱回折(EBSD)によって決定した。これらの結晶粒は,SHRIMP RG及びSHRIMP SIイオンマイクロプローブを用いたU-Th-Pb同位体と~十八零/~十六零組成を分析した。これらのデータに基づいて,錫石は,結晶学的方位で達成された精度でUO_2/UO,Pb/UO,または~十八零/~十六零比のような重要な測定パラメータの依存性を示さないように思われる。等構造錫石とルチルの対照的な挙動は重要な因子であると提案した電子構造とイオンマイクロプローブ分析中の結晶方位効果をもたらす機構への新しい洞察を提供した。Copyright 2017 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.【Powered by NICT】

シソーラス用語： 同位体 ,  ルチル ,  *錫石 ,  酸化物 ,  *結晶方位 ,  電子構造 ,  鉱物 ,  結晶粒
準シソーラス用語： SHRIMP ,  EBSD ,  同位体データ ,  イオンマイクロプローブ , 【Automatic Indexing@JST】

著者キーワード (5件)： すず石 ,  SIMS ,  結晶学的配向の効果 ,  U-Pb ,  δ~18 0

分類 (1件)： 年代測定  (DD01050W)

タイトルに関連する用語 (6件)： すず石 ,  二次イオン質量分析 ,  SIMS ,  分析 ,  結晶方位 ,  評価