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J-GLOBAL ID：201702283600927891   整理番号：17A0914011

回路シミュレーション目的のためのRRAM熱リセット遷移のSPICEモデリング【Powered by NICT】

SPICE modeling of RRAM thermal reset transitions for circuit simulation purposes

著者 (4件)： Jimenez-Molinos F. (Departamento de Electro ́nica y Tecnologi ́a de Computadores, Facultad de Ciencias, Universidad de Granada (Spain)) ,  Gonzalez-Cordero G. (Departamento de Electro ́nica y Tecnologi ́a de Computadores, Facultad de Ciencias, Universidad de Granada (Spain)) ,  Cartujo-Cassinello P. (Departamento de Electro ́nica y Tecnologi ́a de Computadores, Facultad de Ciencias, Universidad de Granada (Spain)) ,  Roldan J.B. (Departamento de Electro ́nica y Tecnologi ́a de Computadores, Facultad de Ciencias, Universidad de Granada (Spain))
資料名： IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017  号： CDE  ページ： 1-4  発行年： 2017年 
JST資料番号： W2441A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 単極性抵抗メモリのための物理ベースSPICEコンパクトモデルを提案した。モデルはフィラメント状の抵抗スイッチング動作のためのオーミックおよび量子伝導計算を含んでいる。添加では,熱効果の詳細な記述を導入した。異なるタイプの導電性フィラメント(CF)のを考慮に入れることができる;特に樹枝状フィラメント。回路シミュレーションツールにおける実装はモジュールと包括的な方法で行われてきた。電圧パルス動作下でのリセット過渡応答は,電気と熱的内部変数の進展を考慮した深さでシミュレートし,解析した。RRAM応答における熱慣性を考慮し,特性化した。Copyright 2017 The Institute of Electrical and Electronics Engineers, Inc. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *回路シミュレーション ,  熱影響 ,  *モデリング ,  過渡応答 ,  フィラメント
準シソーラス用語： 熱慣性 ,  内部変数 ,  パルス電圧 ,  導電性フィラメント ,  量子コンダクタンス ,  抵抗スイッチング ,  コンパクトモデル ,  抵抗メモリ ,  単極性 ,  *ReRAM , 【Automatic Indexing@JST】

分類 (2件)： 半導体集積回路  (NC03162T) ,  記憶装置  (JC04060F)

タイトルに関連する用語 (6件)： 回路シミュレーション ,  RRAM ,  リセット ,  遷移 ,  SPICE ,  モデリング